仪器型号：JT14A

测量行程：200x150mm

用途：芯片的线路板对比测量，

客户产品主要为短波红外铟镓砷探测器、相机，广泛应用于场地监控、粮食色选、驾驶视觉增强、防伪安检、光伏芯片检测、硅基半导体材料与工艺检测、医疗影像、森林防火、文物鉴定等诸多领域。 

中国科学院上海技术物理研究所（简称上海技物所）创建于1958年10月，是集基础研究、工程技术研发和高新技术产业化为一体的综合型研究机构。上海技物所以红外物理与光电技术研究为定位，以红外光电新材料、新器件、新方法等作为主要研究方向，重点发展先进的航空航天有效载荷、红外凝视成像及信号处理、红外焦平面及遥感信息处理等技术。

　　上海技物所着眼于国家重大战略需求，针对相关技术领域的特点，已形成具有自身特色的、覆盖“基础前沿—核心组部件—系统集成”完整研发体系。设有研究室13个，建有红外物理国家重点实验室、传感技术联合国家重点实验室（光传感器专业点）、中科院红外成像材料与器件重点实验室、中科院红外探测与成像技术重点实验室、中科院空间主动光电技术重点实验室、中科院智能红外感知重点实验室以及省部共建现场物证光学探测技术联合实验室。